Dit meetsysteem is uitgerust met een oppervlakteruwheid detector, een contourdetector en confocale chromatische punt sensor (CPS), gebruikt axiale chromatische aberratie. Voert contactloos contour en ruwheidsmeting uit op delen met steil hellende oppervlakken en op zachte materialen.
|
X=200mm; Z2=500mm; CPS2525, Y-axis Prijs op aanvraag |
||||
X=200mm; Z2=500mm; CPS0517, Y-axis Prijs op aanvraag |